常見粒度儀的幾種測(cè)試方法

1）篩分法。優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于40um的樣品。缺點(diǎn)：結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

      （2）顯微鏡（圖像）法。優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀，可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄（zui大和zui小粒徑的比值小于10：1）的樣品。缺點(diǎn)：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1um的樣品。

      （3）沉降法（包括重力沉降和李新沉降）。優(yōu)點(diǎn)：操作漸變，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較廣。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長，操作比較繁瑣。

      （4）電阻法。優(yōu)點(diǎn)：操作漸變可測(cè)顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn)：不適合測(cè)量小于0.1um的顆粒樣品，對(duì)粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

      （5）激光法。優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍廣，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高，分辨力低。